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Ausarbeitung der apparativ-technologischen Austattung des technologischen Prozesses zur Darstellung fünfkomponentiger Heterostrukturen
Al(x)In(y)Ga(1-x-y)As(z)P(1-z)/GaP©2004 Diplomarbeit -
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Oberflächenanalyse von Si/SiGe-Schichten
©1998 Diplomarbeit -
CV-Messungen an geätzten epitaktisch gewachsenen Schichten
©1999 Diplomarbeit