@book { EntwicklungeinerMethodezurUntersuchungderZusammenhngezwischenkritischenDesigngrenundAusfllenbeiderProduktiondigitalerLogikchips,
    title = "Entwicklung einer Methode zur Untersuchung der Zusammenhänge zwischen kritischen Designgrößen und Ausfällen bei der Produktion digitaler Logikchips",
    author = "Roland {Zavaczki}",
    year = "2008",
    publisher = "Diplom.de",
    address = "Hamburg, Deutschland",
    doi = "10.3239/9783836609043",
    url = "https://m.diplom.de/document/225545"
}